霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)低溫型儀器
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產(chǎn)品名稱: 霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)低溫型儀器
產(chǎn)品型號: JH60D
產(chǎn)品展商: 錦正茂儀器
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)-低溫型可測試材料:
半導(dǎo)體材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和鐵氧體材料等
低阻抗材料：石墨烯、金屬、透明氧化物、弱磁性半導(dǎo)體材料、TMR 材料等
高阻抗材料：半絕緣的 GaAs, GaN, CdTe 等
霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)低溫型儀器
的詳細(xì)介紹
